AI賦能光子集成芯片測(cè)試：提速、增效、零意外

  ICC訊 在光子集成芯片（PICs）的構(gòu)建與規(guī)?；a(chǎn)中，速度、良率以及生產(chǎn)線上的零意外狀況至關(guān)重要。而測(cè)試，無(wú)疑是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)最切實(shí)可行、最具成本效益的手段，這一點(diǎn)怎么強(qiáng)調(diào)都不為過(guò)。然而，真正的挑戰(zhàn)在于：我們?nèi)绾螌⑷斯ぶ悄埽ˋI）融入實(shí)時(shí)測(cè)試應(yīng)用，以縮短測(cè)試周期、優(yōu)化工具配置，讓更多人能夠在不犧牲控制力和嚴(yán)謹(jǐn)性的前提下，基于洞察采取行動(dòng)呢？

  本文將聚焦于AI創(chuàng)造可量化價(jià)值的三大領(lǐng)域：優(yōu)化現(xiàn)有的測(cè)試流程，以更快地做出可靠的合格/不合格決策；加速晶圓和芯片定位的視覺(jué)識(shí)別，為自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)（AOI）鋪平道路；以及作為一個(gè)安全的人機(jī)數(shù)據(jù)交互界面，在拓展訪問(wèn)權(quán)限的同時(shí)，保持關(guān)鍵決策的確定性和可觀測(cè)性。同時(shí)，我還將規(guī)劃一個(gè)分階段的實(shí)施路徑：全程圍繞數(shù)據(jù)主權(quán)、漸進(jìn)式定制化以及您運(yùn)營(yíng)所要求的安全性和穩(wěn)健性構(gòu)建，涵蓋從數(shù)據(jù)收集與準(zhǔn)備到資格認(rèn)證與量產(chǎn)的各個(gè)階段。

  AI在測(cè)試流程優(yōu)化中的應(yīng)用

  讓我們直面現(xiàn)實(shí)：全面的光子測(cè)試往往依賴于冗長(zhǎng)的測(cè)量序列、專用測(cè)試平臺(tái)和專家干預(yù)。這些因素不僅延長(zhǎng)了產(chǎn)品上市時(shí)間，還增加了資本支出。但我堅(jiān)信，將監(jiān)督學(xué)習(xí)引入既定流程——并基于完整批次數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練——可以在保持所有權(quán)和透明度的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試流程的優(yōu)化。在特定情況下，AI甚至能取代專用硬件，將特定功能遷移到軟件端，同時(shí)保持所需的嚴(yán)謹(jǐn)性。

  回報(bào)是什么？達(dá)成可靠合格/不合格決策的步驟更少，推出新變體的路徑更順暢。

  您將獲得的改變：

  ? 縮短資格認(rèn)證周期，同時(shí)品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)毫不妥協(xié)

  ? 減少設(shè)備冗余，軟件即可勝任

  ? 當(dāng)產(chǎn)品或參數(shù)發(fā)生變化時(shí)，能夠更快地適應(yīng)

  AI賦能視覺(jué)識(shí)別

  在工業(yè)環(huán)境中，如晶圓定位或大批量芯片測(cè)試，傳統(tǒng)視覺(jué)技術(shù)常因速度遲緩、過(guò)于刻板而令人沮喪。我們的解決方案獨(dú)樹(shù)一幟：打造一條既快速、精確又靈活的路徑，實(shí)現(xiàn)了高達(dá)100倍的周期時(shí)間加速，同時(shí)保持甚至提升檢測(cè)精度與失誤率，將人工干預(yù)減少了整整一個(gè)數(shù)量級(jí)，并將整體數(shù)據(jù)占用空間縮減三個(gè)數(shù)量級(jí)。

  這些不僅僅是幻燈片上的空洞數(shù)據(jù)——這些提升使視覺(jué)檢測(cè)與當(dāng)前測(cè)試時(shí)間同步，并為未來(lái)擴(kuò)展到自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)（AOI）等領(lǐng)域創(chuàng)造了空間。

  您將看到的變化：

  ? 對(duì)準(zhǔn)和檢測(cè)不再是瓶頸

  ? 數(shù)據(jù)處理和人工干預(yù)更加精簡(jiǎn)，結(jié)果高度可靠

  ? 從簡(jiǎn)單的放置和移動(dòng)到全面的自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)（AOI），提供切實(shí)可行的入門(mén)路徑

  AI作為人機(jī)數(shù)據(jù)交互界面

  我時(shí)?？吹竭@樣一種現(xiàn)象：在許多團(tuán)隊(duì)中，豐富的測(cè)試數(shù)據(jù)僅對(duì)少數(shù)專家開(kāi)放，這導(dǎo)致了決策過(guò)程中的瓶頸和不透明性。這種情況本不應(yīng)發(fā)生。將模型集成到您現(xiàn)有的數(shù)據(jù)環(huán)境中，可以讓更多利益相關(guān)者能夠調(diào)查、學(xué)習(xí)和行動(dòng)，同時(shí)在必須保持確定性與可觀察性的環(huán)節(jié)（尤其當(dāng)結(jié)果需要可驗(yàn)證和可審計(jì)時(shí)）確保其完整性。

  您將獲得的改變：

  ? 更廣泛、自助式的洞察訪問(wèn)，避免混亂

  ? 更快的根本原因分析和流程優(yōu)化

  ? 保持合規(guī)性、可追溯性和質(zhì)量關(guān)卡的完整性

  立足實(shí)際，注重控制

  真正的部署成功在于尊重工廠和業(yè)務(wù)的實(shí)際情況。因此，數(shù)據(jù)主權(quán)、持續(xù)定制化能力以及安全性和穩(wěn)健性被視為首要要求，而非事后考慮。我們的實(shí)用工具包包括成像器、標(biāo)注器、合成器、模擬器和EXFO Pilot應(yīng)用程序，這些工具幫助團(tuán)隊(duì)以完全可追溯的方式進(jìn)行數(shù)據(jù)捕獲、標(biāo)注、增強(qiáng)和驗(yàn)證。您始終掌控全局。

  從研究到生產(chǎn)的階梯式路徑

  采用AI是一個(gè)漸進(jìn)的過(guò)程，而非一蹴而就。對(duì)于大多數(shù)組織而言，這代表了一個(gè)更長(zhǎng)期轉(zhuǎn)型的早期篇章。垂直整合的路徑始終與變更控制和可審計(jì)性保持一致：

  收集：在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試運(yùn)行期間，EXFO Pilot對(duì)整個(gè)空間（如整片晶圓）進(jìn)行成像。

  準(zhǔn)備：優(yōu)化現(xiàn)有數(shù)據(jù)，并通過(guò)基于物理的渲染進(jìn)行增強(qiáng)，以擴(kuò)大覆蓋范圍。

  資格認(rèn)證：進(jìn)行訓(xùn)練，然后根據(jù)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)和故障模式進(jìn)行壓力測(cè)試。

  量產(chǎn)：逐步切換，同時(shí)保持可觀測(cè)性，必要時(shí)支持回滾操作。

  避免創(chuàng)新者的陷阱

  即便傾聽(tīng)客戶需求、投資新技術(shù)，若解決方案忽視環(huán)境變化速度與工廠實(shí)際運(yùn)作模式，仍可能導(dǎo)致市場(chǎng)失利。我親眼見(jiàn)過(guò)這種情況發(fā)生。那么，解藥是什么呢？與客戶共同設(shè)計(jì)，始終將生產(chǎn)約束置于核心位置，從一開(kāi)始就構(gòu)建速度、靈活性和覆蓋范圍，使創(chuàng)新成為持久優(yōu)勢(shì)而非迂回之策。

  EXFO如何提供幫助

  將AI引入實(shí)時(shí)光子學(xué)測(cè)試，不應(yīng)是突兀的跨越，而應(yīng)是清晰的指引。從第一片晶圓到最終模塊，我們的方案精準(zhǔn)契合生產(chǎn)線的核心需求：毫不妥協(xié)的速度、經(jīng)得起考驗(yàn)的質(zhì)量、值得信賴的決策。

  我們專注于能夠推動(dòng)實(shí)質(zhì)性改變的關(guān)鍵要素：自動(dòng)化的探針工作流程、精確的光學(xué)特性分析，以及僅在可量化提升環(huán)節(jié)引入AI。因此，您的團(tuán)隊(duì)能夠?qū)⒏嗟臅r(shí)間用于開(kāi)發(fā)可靠的產(chǎn)品，而不再耗費(fèi)大量精力在流程的繁瑣操作上。變化是分階段發(fā)生的，其間設(shè)有防護(hù)措施，以確保確定性、可觀察性和數(shù)據(jù)主權(quán)得以保持不變。

  最終成果？就是勢(shì)不可擋。更短的周期、更高的吞吐量，以及從構(gòu)想到影響的更順暢路徑。這就是我們追求的目標(biāo)，我堅(jiān)信我們能夠攜手實(shí)現(xiàn)。