Si光電二極管選型難題?一文搞定從原理到電路的全鏈路指南

訊石光通訊網(wǎng) 2025/11/17 9:34:05

  ICC訊 用Si光電二極管測量光信號時,你是否曾為這些問題困擾:

  信號微弱到被噪聲淹沒,怎么辦?

  想要高速響應(yīng),帶寬卻總是上不去?同樣的電路,換了個PD結(jié)果性能天差地別?

  這些讓工程師頭疼的問題,往往在于第一步:選型。濱松硅光電二極管(SiPD)作為探測領(lǐng)域的“基本功”,其正確選擇與應(yīng)用是項目成敗的關(guān)鍵。本文將從原理出發(fā),通過四步型法和三種電路方案,為您提供一份條理清晰的SiPD實戰(zhàn)指南。

  圖1 為部分濱松硅光電二極管產(chǎn)品,涵蓋多種封裝形式(如金屬、陶瓷、表面貼裝等),以滿足從實驗室研發(fā)到工業(yè)化量產(chǎn)的不同場景需求,以其高可靠性、高靈敏度著稱。

  工作原理:PN結(jié)如何將光轉(zhuǎn)化為電信號?

  光電二極管是一種光電傳感器,當(dāng)半導(dǎo)體中的PN結(jié)受到光照射時,會產(chǎn)生光電流或光電壓。通常用光電流來表征光強,光電流從陽極流出,大小和光強成正比。

  好了,我們已經(jīng)掌握了核心原理:PN結(jié)能將光能轉(zhuǎn)化為電流,且光強與電流成正比。

  那么,一個很自然的問題就出現(xiàn)了:如何將這一原理,應(yīng)用到千差萬別的實際項目中?

  答案就在于:精準(zhǔn)的匹配。

  選型的本質(zhì),就是將您需要探測的 “光信號特性”,與SiPD的 “性能參數(shù)” 進行最佳匹配。

  接下來,我們將通過一套清晰的 “四步選型法”,一步步引導(dǎo)您完成這場匹配。

  首先,我們從第一步開始:明確您的光信號特征。

 第一步:初篩——明確您的光信號四大特征

  面對上百款SiPD,別慌!首先回答這四個關(guān)于光源的核心問題,就能快速縮小范圍:

  光譜范圍:您的光波長在什么范圍?SiPD覆蓋190-1100 nm?!?gt;1100 nm? 請考慮InGaAs、InAsSb等紅外探測器。

  光強水平:信號是強是弱?SiPD適用于pW至10mW?!绻庑盘栞^弱,需選擇APD,MPPC,PMT等靈敏度高的探測器。

  時間特性:Si PD分兩種類型,PN型和PIN型。信號頻率高嗎?→<1mhz選pn型;→>1MHz 選PIN型。

  空間信息:需要分辨光斑形狀嗎?→需要?請考慮PD陣列或圖像傳感器。Si PD單次測量無法識別光斑大小,形狀。

 第二步:優(yōu)化——根據(jù)核心需求做權(quán)衡

  完成初篩后,可通過以下幾點進行精準(zhǔn)優(yōu)化:

  權(quán)衡一:如何選擇"受光面積"?

 情況A:您的首要目標(biāo)是追求更高的信噪比、更寬的帶寬或更低的成本?

  核心考量: 在能完整覆蓋光斑的前提下,更小的受光面積通常意味著更低的暗電流、更低的噪聲、更高的帶寬和更低的成本。

  決策建議:優(yōu)先選擇能滿足光斑尺寸的最小面積型號。

  情況B:您的信號非常微弱,或者光斑較大,確保接收到足夠的光信號是第一位?

  核心考量: 需要足夠大的面積來捕獲光子,保證信號強度。

  決策建議:選擇能夠充分覆蓋光斑的受光面積。

  核心原則: 受光面積 “夠用就好”,并非越大越優(yōu)。

  權(quán)衡二:如何選擇"光譜類型"?—— 根據(jù)信號波長與背景光干擾決定

  決策目標(biāo): 您的信號波長和背景環(huán)境是怎樣的?

  標(biāo)準(zhǔn)場景(信號波長在190-1100 nm內(nèi),無特殊干擾): 選擇常規(guī)型即可。

  需要抑制紅外背景光(如存在白熾燈等熱光源干擾): 選擇紅外抑制型(190-1000 nm),有效提升信噪比。

  用于紫外波段,或環(huán)境苛刻需高可靠性: 選擇紫外型(無樹脂粘接,抗紫外老化能力更強)。

  權(quán)衡三:如何選擇"結(jié)構(gòu)類型"?—— 基于“精度”與“速度”的優(yōu)先級

  決策目標(biāo): 在您的應(yīng)用中,更看重測量精度還是響應(yīng)速度?

  更關(guān)注弱光測量精度,要求極限噪聲較低:

  決策建議:選擇硅光電二極管(Si PD)。

  更關(guān)注高速響應(yīng)特性,需要更高的工作帶寬:

  決策建議:選擇硅PIN光電二極管(Si PIN PD)。

  第三步:確認(rèn)——根據(jù)應(yīng)用環(huán)境選擇封裝材料

  在確定了核心參數(shù)(面積、光譜、結(jié)構(gòu))后,最后關(guān)鍵一步是根據(jù)您的應(yīng)用環(huán)境與可靠性要求,選擇合適的封裝材料。封裝材料直接影響器件的機械強度、散熱性、環(huán)境適應(yīng)性和成本。

  帶BNC連接頭:通過BNC連接線可即插即用,便于與放大器、電流計等測量儀器直接相連,非常適合實驗室研發(fā)和需要頻繁連接的測試場景。

  表面貼裝型:結(jié)構(gòu)簡單,可直接焊接于PCB電路板,適用于需要自動化批量生產(chǎn)的消費電子和工業(yè)產(chǎn)品,實現(xiàn)高集成度。

 耦合閃爍體:探測器已與閃爍體集成,專用于測量閃爍體產(chǎn)生的熒光,是進行X射線無損檢測等應(yīng)用的一站式解決方案。

  芯片尺寸封裝:封裝尺寸與芯片核心尺寸基本相同,能實現(xiàn)極高的空間密度,是追求極致小型化設(shè)備的理想選擇。

  此外,對于金屬封裝的硅光電二極管(通常為2pin腳),需特別注意:有的型號的外殼與陰極連接,有的與陽極連接。為實現(xiàn)最佳屏蔽效果,建議將外殼接地。具體表現(xiàn)為:若陽極接地,則陰極作為電流流入端;若陰極接地,則陽極作為電流流出端。務(wù)必注意光電流的這種方向性。

  第四步:實現(xiàn)——信號讀出方案與性能驗證

  器件選型完成后,下一步就是讓它“工作”起來,驗證其性能并實現(xiàn)穩(wěn)定的信號讀出。我們強烈建議您遵循以下路徑,高效完成這一步。

  路徑一:快速驗證(拿到器件后第一件事)

  收到Si PD后,可在室內(nèi)光照下用萬用表進行快速驗證:短路電流約為幾微安(μA),開路電壓約為零點幾伏(V)。這一步的目的是快速判斷器件是否完好、工作基本正常。

  具體方法可參考此鏈接:http://share.hamamatsu.com.cn/specialDetail/2045.html

  路徑二:應(yīng)用開發(fā)(集成到您的系統(tǒng)中)

       驗證器件完好后,接下來需要為它配置讀出電路,將其集成到您的系統(tǒng)里。您有兩種主流方案可選:

  1. 模塊化方案(推薦首選:大幅節(jié)省開發(fā)時間)

       為簡化開發(fā),濱松提供了多種即用型模塊產(chǎn)品(如C10439系列模擬輸出模塊、C9329-01數(shù)字輸出模塊)。您可優(yōu)先評估這些方案是否能滿足需求,這是通往成功最快的路徑。

 2、自定義電路設(shè)計(滿足特定需求)

  若無合適模塊,則需自行設(shè)計讀出電路。主流方案有以下三種:

  通過電流表讀取電流??梢酝ㄟ^將PD陰陽極焊接到同軸線上,再接入電流表。以陰極輸出電流為例。

  需要注意的是,僅用兩根導(dǎo)線或雙絞線焊接并接入測試設(shè)備中容易受到電磁干擾,使用同軸線則具有一定的屏蔽作用;想要進一步屏蔽干擾,還需添加金屬屏蔽外殼并接地,探測器僅露出光窗部分。

  通過跨阻放大電路(TIA),將光電流直接轉(zhuǎn)換為電壓。

  設(shè)計資源: 我們推薦使用ADI的在線設(shè)計工具進行TIA電路設(shè)計,輸入探測器參數(shù),入射光強,輸出電壓,目標(biāo)帶寬等信息,無需手動計算補償電容,可自動生成原理圖:https://tools.analog.com/cn/photodiode/。

  通過負(fù)載電阻+電壓放大:本質(zhì)是 “兩步級聯(lián)”,第一步通過負(fù)載電阻RL將輸入電流轉(zhuǎn)換為電壓(V1=Iin×RL),第二步通過電壓放大器(如同相 / 反相運放電路)對V1進行增益放大(Vout=V1×Av,Av為電壓放大倍數(shù))。

  負(fù)載電阻RL影響帶寬,線性上限,以及噪聲,不宜過大,推薦50Ω。

  對于常規(guī)使用場景,兩種放大電路方案均可,對于特殊使用場景,兩種方案會有些差異:

  最后,關(guān)于PD是否需要反偏電壓工作,以及反偏電壓給多少的問題?實際上PD也可以不用反偏電壓工作,也建議在滿足需求的同時,盡量小。 Si PD可以工作在光伏模式和光導(dǎo)模式。


  理論結(jié)合實踐,方能融會貫通。濱松中國還可為您提供Si PD評估電路試用及深度的技術(shù)服務(wù)。我們的專業(yè)技術(shù)團隊致力于通過定制化的解決方案,快速協(xié)助您將產(chǎn)品集成到項目中,有效縮短開發(fā)周期。


新聞來源:訊石光通訊網(wǎng)

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