ICC訊 在5G、數(shù)據(jù)中心、硅光技術(shù)快速發(fā)展的今天,光器件的可靠性和性能直接影響著整個(gè)通信系統(tǒng)的穩(wěn)定性。然而,傳統(tǒng)檢測(cè)技術(shù)面臨著分辨率不足、侵入式損傷、數(shù)據(jù)單一三大痛點(diǎn),導(dǎo)致故障定位困難、研發(fā)效率低下。Santec SPA-110高精度光鏈路分析儀的出現(xiàn),徹底改變了這一現(xiàn)狀?;贠FDR(光頻域反射測(cè)量)技術(shù),它實(shí)現(xiàn)了5微米級(jí)超高分辨率檢測(cè),為行業(yè)帶來(lái)革命性的解決方案。
技術(shù)突破:OFDR 原理揭秘
SPA-110的核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)源于OFDR的獨(dú)特工作原理。與傳統(tǒng)OTDR技術(shù)相比,OFDR通過(guò)頻率掃描和干涉測(cè)量,實(shí)現(xiàn)了從"厘米級(jí)"到"微米級(jí)"的跨越。
· 采用Santec可調(diào)諧激光器(TSL系列)進(jìn)行寬頻掃描。
· 通過(guò)背向瑞利散射光與參考光干涉,獲取精確的頻域信息。
· 利用傅里葉變換將頻率信息轉(zhuǎn)換為空間距離信息。
· 生成高精度的反射和損耗分布曲線。
核心優(yōu)勢(shì)
超高分辨率檢測(cè)能力
· 5微米空間分辨率
· 可清晰識(shí)別光纖微裂紋、芯片耦合點(diǎn)偏移等微小缺陷
· 支持硅光波導(dǎo)中高精度的檢測(cè)需求
全面的性能參數(shù)
· 反射模式靈敏度:-145dB
· 傳輸模式IL動(dòng)態(tài)范圍:≥80dB
· 測(cè)量重復(fù)性:±180μm~±300μm
· 支持O波段(1260-1350nm)和CL波段(1480-1640nm)
智能化軟件平臺(tái)
配備專業(yè)的測(cè)量分析軟件,支持一鍵式操作、自動(dòng)峰值檢測(cè)、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析等功能。
應(yīng)用案例:多場(chǎng)景實(shí)戰(zhàn)驗(yàn)證
案例一:硅光芯片波導(dǎo)結(jié)構(gòu)分析
在硅光子器件測(cè)試中,SPA-110成功實(shí)現(xiàn)了對(duì)波導(dǎo)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析。通過(guò)高分辨率掃描,清晰顯示出波導(dǎo)彎曲處的反射特征,為芯片設(shè)計(jì)優(yōu)化提供了重要數(shù)據(jù)支持。
測(cè)試成果

· 準(zhǔn)確識(shí)別波導(dǎo)中周期性彎曲結(jié)構(gòu)(0.2mm)
· 波紋峰值與設(shè)計(jì)完全吻合,驗(yàn)證制造精度
· 為非接觸式檢測(cè)提供了新的技術(shù)路徑
案例二:光模塊內(nèi)部故障精確定位
某數(shù)據(jù)中心光模塊出現(xiàn)性能異常,傳統(tǒng)方法無(wú)法定位問(wèn)題。使用SPA-110檢測(cè)后,在距離端口5.4227mm處發(fā)現(xiàn)微米故障,精準(zhǔn)定位故障點(diǎn)。
價(jià)值體現(xiàn)

· 避免整個(gè)模塊報(bào)廢,節(jié)省成本
· 故障分析時(shí)間從數(shù)天縮短至小時(shí)級(jí)
· 為生產(chǎn)工藝改進(jìn)提供數(shù)據(jù)依據(jù)
案例三:光纖器件性能驗(yàn)證
在特種光纖器件檢測(cè)中,光纖微裂紋是導(dǎo)致信號(hào)衰減和設(shè)備故障的主要原因之一。這些微米級(jí)的缺陷雖然肉眼不可見(jiàn),卻會(huì)嚴(yán)重影響光信號(hào)的傳輸質(zhì)量,SPA-110確保器件性能符合設(shè)計(jì)要求。

Santec的 SPA-110 實(shí)現(xiàn)技術(shù)突破,為硅光、CPO 等領(lǐng)域提供檢測(cè)支撐,助力研發(fā)創(chuàng)新、質(zhì)控提升與成本優(yōu)化。其精準(zhǔn)高效的檢測(cè)能力,惠及產(chǎn)業(yè)鏈及科研端,為光通信產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展注入實(shí)用動(dòng)力
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新聞來(lái)源:Santec
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