CIOE 2025回顧 | 聯(lián)訊儀器展臺人氣爆滿，1.6T光模塊測試引人矚目！

  ICC訊 9月12日，第二十六屆中國國際光電博覽會(CIOE 2025)在深圳國際會展中心圓滿落幕。本屆展會匯聚全球光電領(lǐng)域尖端技術(shù)與創(chuàng)新成果，展現(xiàn)了前沿科技的無限可能，成為洞察產(chǎn)業(yè)風(fēng)向的最佳窗口。聯(lián)訊儀器展出多種高端測試解決方案，包括1.6T光模塊測試、50G PON測試、多款高性能源表、硅光晶圓測試系統(tǒng)、激光器芯片CoC老化系統(tǒng)等，均獲得眾多新老客戶的深度關(guān)注。

1.6T與50G PON測試解決方案

  聯(lián)訊儀器推出的1.6T高速測試解決方案成為全場焦點(diǎn)。該解決方案支持800G/1.6T以太網(wǎng)的物理層全面測試，提供完整的高速信號完整性分析、FEC分析和誤碼率驗(yàn)證能力，可滿足下一代數(shù)據(jù)中心對高速互連技術(shù)的測試需求。展會期間，聯(lián)訊展臺始終保持高流量狀態(tài)，全球各地的客戶觀眾與我們的技術(shù)人員在此進(jìn)行深入探討。

  同期展示的50G PON測試系統(tǒng)同樣備受矚目。隨著5G-Advanced和F5.5G技術(shù)的快速發(fā)展，50G PON作為10G PON的演進(jìn)技術(shù)，對測試測量提出了更高要求。聯(lián)訊儀器提供的端到端測試解決方案，為設(shè)備制造商和運(yùn)營商提供可靠的技術(shù)保障?，F(xiàn)場通過實(shí)時演示系統(tǒng)性能測試，展示了其在測試精度、系統(tǒng)兼容性和自動化測試方面的卓越性能。

硅光晶圓測試與芯片老化系統(tǒng)

  聯(lián)訊儀器的硅光晶圓測試系統(tǒng)引起了業(yè)界的廣泛關(guān)注。該系統(tǒng)針對硅光工藝的特殊性，提供了高精度的光學(xué)和電學(xué)測試能力，支持晶圓自動上下料，快速實(shí)現(xiàn)光耦合，大大提高了測試效率，并有助于提升產(chǎn)品良率。展會期間，許多專業(yè)觀眾與聯(lián)訊技術(shù)團(tuán)隊(duì)就DC測試精度、耦合方式和算法、RF測試以及多工藝平臺適配等問題進(jìn)行交流探討。

  CoC老化測試系統(tǒng)作為另一個技術(shù)亮點(diǎn)，吸引了眾多專業(yè)觀眾的駐足。該系統(tǒng)專為半導(dǎo)體激光器芯片老化測試而設(shè)計(jì)，支持最多8448路標(biāo)準(zhǔn)電源，熱沉溫度均勻性偏差≤±1.0℃(40～100℃)。聯(lián)訊技術(shù)團(tuán)隊(duì)與超過20位參展觀眾進(jìn)行深度洽談，針對溫度控制、測試重復(fù)性等問題交換了見解。

  展會期間，源表展區(qū)陳列了多種不同規(guī)格的源表產(chǎn)品，吸引了眾多參展觀眾的關(guān)注。聯(lián)訊技術(shù)支持工程師通過演示測量功率器件的IV特性，清晰地展示出S2035H/S2036H等高精度源表在高速采樣、低噪聲測量等方面的關(guān)鍵指標(biāo)，尤其是在展會現(xiàn)場的復(fù)雜環(huán)境下，源表測試的pA級別小電流輸出穩(wěn)定，其突出的性能引發(fā)了現(xiàn)場專業(yè)觀眾的濃厚興趣和熱烈討論。

  小結(jié)

  CIOE 2025已圓滿落幕，光通信技術(shù)的創(chuàng)新步伐將持續(xù)加速。聯(lián)訊儀器通過此次展會充分展示了在高端光電測試領(lǐng)域的技術(shù)實(shí)力，尤其在1.6T光模塊測試樹立起牢固的行業(yè)標(biāo)桿地位，與業(yè)界伙伴建立了更加緊密的合作關(guān)系。展望未來，公司將繼續(xù)致力于測試測量技術(shù)的創(chuàng)新研發(fā)和質(zhì)量提升，為光通信產(chǎn)業(yè)的發(fā)展提供堅(jiān)實(shí)支撐。